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GP300探針臺

簡要描述：大功率探針臺,GP300探針臺讓您的芯片測試更加簡單，機臺可輕松實現DC ~ THZ測量，提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案。

  • 產品型號：
  • 廠商性質：生產廠家
  • 更新時間：2024-04-02
  • 訪  問  量：5691
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便捷操作的8英寸手動探針臺滿足多角度探測需求 手動探針臺通過手動操作來控制探針與樣品之間的接觸和測量 高低溫探針臺是科研與產業中的溫度控制關鍵

詳細介紹

 

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GP300探針臺12英寸手動探針臺

 

GP300探針臺產品數據：

  1. 機臺可輕松實現DC ~ THZ測量。

  2. 提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案。

  3. 優異的三軸設計，保證I-V測試漏電精度達到fa等級。

  4. 多孔吸附式載物臺設計，更好地兼容薄晶圓固定。

  5. 高品質顯微鏡搭配高分辨率CCD系統，可直觀了解扎針情況，提高扎針的準確性和效率。

  6. 可升級的高低溫系統，為芯片提供更加成熟穩定的老化測試環境。

  7. 緊湊且可靠的機械設計，更適用于芯片的測試及建模系統升級。

  8. 能夠根據未來需求，可提供多種升級模塊，輕松實現探針臺功能升級。

  9. 短軸式拉桿設計，將更加符合新一代芯片系統測試的需求。拉桿在任意位置可停留、極限位置能快速鎖定、分離位可固定，將進一步防止誤操作，提高測試效率，節省成本。

 

高溫低漏電載物臺.png

溫控系統局部細節圖--高溫低漏電載物臺

 

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搭載直流和射頻探針座實物照片

 

637908211526344947278.png

搭載思儀太赫茲系統實物

 

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